Hochtemperatur-Siliziumkarbid-Bauteil (SiC) für Test umverpackt
Zusammenfassung
Hochtemperatur-Siliziumkarbid-Bauteil (SiC) für Test umverpackt
NASA Identifier: C-2007-1275
Tags
NASA
Hochtemperatur-Siliziumkarbid-sic-Gerät für den Test neu verpackt
divids
hohe Auflösung
Glenn-Forschungszentrum
Luftfahrtforschungsorganisation
ultrahohe Auflösung
Datum
12/09/2009
Lage
Quelle
Defense Visual Information Distribution Service
Link
Copyright-info
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